图1 HSL的分子结构和电特性。
图2 不同HSL的PSC的光伏性能
PSC稳定性研究
为了估计ITO/NiOx/MeO-4PADBC衬底的热稳定性,研究人员应用开尔文探针力显微镜(KPFM)记录了SAM在热处理下的表面电位演变。他们比较了ITO/MeO-4PADBC衬底与ITO/NiOx/MeO-4PADBC衬底在热老化前后的表面电位。分析了接触电位分布(CPD)的变化,以评估SAM在加热下与基材的结合能力。此外,通过密度泛函理论(DFT)模拟研究了不同温度下MeO-4PADBC与ITO或NiOx衬底的结合能。
DFT 模拟研究发现在 300 K 下,MeO-4PADBC 与 NiOx 的结合能 (-22.4 eV) 高于 ITO (-16.7 eV)。这表明 MeO-4PADBC 与 NiOx 基底之间的结合更强。在340 K时,MeO-4PADBC和ITO之间的结合能降低至-11.6 eV,而MeO-4PADBC和NiOx之间的结合能变化较小(-20.3 eV)。这表明 NiOx 基板上的 MeO-4PADBC 比裸 ITO 上的 MeO-4PADBC 更能抵抗热应力。
基于 MeO-4PADBC 的器件在 65℃ 下运行 1200 小时后仍保留了 65% 的初始功率转换效率 (PCE)。另一方面,基于 NiOx/MeO-4PADBC 的器件在相同的持续时间和温度后保留了 90% 的初始 PCE。
以 NiOx/MeO-4PADBC 作为空穴选择层 (HSL) 的 PSC 的温度依赖性降解活化能 (Ea) 约为 0.389 ± 0.022 eV。该值几乎比以 MeO-4PADBC 作为 HSL 的 PSC 的 Ea 值高出三倍,约为 0.150 ± 0.017 eV。
图3 PSCs降解机制分析
图4不同温度下PSC的长期稳定性评估
总结展望
综上所述,香港城市大学朱宗龙和华中科技大学李忠安研究团队展示了一种高效且稳定的 HSL,其热稳定性大大提高,适用于包含高效 SAM 的倒置 p-i-n PSC。MeO-4PADBC的合理分子结构设计和深入分析表明,最佳偶极矩和与钙钛矿的良好接触是实现理想能量排列和快速空穴提取以提高器件效率和稳定性的关键。此外,MeO-4PADBC SAM分子锚定在NiOx薄膜上可以与NiOx形成更强的三齿键,有效降低电压损失,并进一步在热应力下保持较强的固定效果。我们的研究为高效、稳定的 HSL 设计提供了理论指导,并为轻松获得商用倒置 p-i-n PSC 铺平了道路。
参考文献:
Zhen Li, Xianglang Sun, Xiaopeng Zheng, Bo Li, Danpeng Gao, Shoufeng Zhang, Xin Wu, Shuai Li, Jianqiu Gong, Joseph M. Luther, Zhong’an Li*, and Zonglong Zhu*. Stabilized hole-selective layer for high-performance inverted p-i-n perovskite solar cells, Science. (2023).